Spektrofotometr mikropłytkowy LTEK™ INNO-M jest urządzeniem nowej generacji XXI wieku, przeznaczonym do wszystkich badań zajmujących się absorbancją i luminescencją. Umożliwia różnorodne testy punktów końcowych, kinetycznych, spektralnych i skanowania powierzchni.
Producent:
Spektrofotometr mikropłytkowy INNO-M
Spektrofotometr mikropłytkowy LTEK™ INNO-M jest urządzeniem nowej generacji XXI wieku, przeznaczonym do wszystkich badań zajmujących się absorbancją i luminescencją. Umożliwia różnorodne testy punktów końcowych, kinetycznych, spektralnych i skanowania powierzchni.
Wyniki są dostarczane szybko i wygodnie prezentowane w programie Microsoft Excel, co pozwala na bezpieczne zapisywanie danych wynikowych i zarządzanie nimi.
Spektrofometry mikropłytkowe INNO i INNO-M bazują na monochromatycznej technologii pomiarowej, która pozwala na wprowadzenie badań na wyższy poziom.
INNO-X, czyli oprogramowanie dla INNO i INNO-M, posiada rozbudowane funkcje z dużą dokładnością danych wynikowych.
Wygoda INNO-X polega na tym, że użytkownicy końcowi mogą pobrać oprogramowanie ze strony internetowej LTEK w dowolnym czasie i miejscu, co daje możliwość aktualizacji oprogramowania za każdym razem, gdy dostępna jest nowa zaktualizowana wersja.
Czytnik mikropłytek INNO-M jest przyjazny w obsłudze, posiada wszelkie niezbędne certyfikaty (ISO 9001/ISO 14001, RoHS) oraz oznakowanie CE.
- Zakres pracy 200-999 nm
- Wybór długości fali
- Lampa Xenon Flash
- Posiada 2 tryby – absorbancja, luminescencja
- Dodatkowe akcesoria - wykorzystanie NANO-VC na 24 płytki mikroobjętościowe do badań DNA/RNA, co pozwala przeprowadzić jednoczesny odczyt wielu próbek w tym samym czasie.
Potrzebujesz więcej informacji?
Zadzwoń do nas lub wyślij zapytanie za pomocą poniższego formularza.
Napisz do nas +48 22 649 10 41 biuro@aga-analytical.com.pl
W naszej ofercie znajdują się również:
| Układ optyczny | Pojedyńcza wiązka |
| Źródło światła | Xenon Flash |
| Detektor | fotodioda |
| Zakres długości fal | 200-999 nm |
| Aplikacje | Spectral scaning, End point, Kinetic, Area scan |
| Dokładność długości fali | ± 2 nm |
| Powtarzalność długości fali | 0-2 OD +1% |
| Zakres fotometryczny | 0-4.0 OD |
| Dokładność fotometryczna | 0-2 OD +-1% |
| Powtarzalność fotometryczna | 0-2 OD +-1% |
| Komora próbki | 6-384 mikropłytki |
| DNA/RNA 24 płytki mikroobjętościowe | Probówki 2 µl/Kuweta |
| Wytrząsanie | 2 stopnie prędkości |
| Software | INNO-X (Microsoft Windows) |
| Zasilanie | 100 do 240 V, 50/60 Hz, 65 W |
| Wymiary | Sz. 33,3 cm x dł. 30,3 cm x gł. 24,5 cm |
| Waga | 8 kg |
Luminescencja
| Detektor | Fotopowielacz (PMT) |
| Zakres długości fal | 300-700 nm |
| Szczytowa długości fali | 420 nm |
| Limit detekcji | 3 x 10-21 moli |
